美國LEE粗糙度儀優(yōu)點:用優(yōu)化的電路設(shè)計及傳感器結(jié)構(gòu)設(shè)計,將電箱、驅(qū)動器及顯示部分合為一體,使其達到高度集成化;任意選擇Ra、Rz、Rq、Rt測量參數(shù);不僅可以測量外圓、平面、錐面,還可測長寬大于80×30mm的溝槽。功能特點:采用高速DSP處理器進行數(shù)據(jù)處理和計算,測量和運算速...更多
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